Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 3Äußere Zapfen: 180 µm Breite x 200 µm LängeSpitzenform: V-förmigMittlerer Post: 80 µm Breite x 200 µm LängeShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück

Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 4Äußere Zapfen: 180 µm Breite x 200 µm LängeSpitzenform: V-förmigMittlerer Post: 80 µm Breite x 200 µm LängeShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück

Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 5Alle Zapfen (Posts): 60 µm Breite x 200 µm LängeSpitzenform: V-förmigShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück

Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 8Alle Zapfen: 60 µm Breite x 200 µm LängeSpitzenform: V-förmigShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück