Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 8Alle Zapfen: 60 µm Breite x 200 µm LängeSpitzenform: V-förmigShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück

Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 5Alle Zapfen (Posts): 60 µm Breite x 200 µm LängeSpitzenform: V-förmigShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück

Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 4Äußere Zapfen: 180 µm Breite x 200 µm LängeSpitzenform: V-förmigMittlerer Post: 80 µm Breite x 200 µm LängeShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück

Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse. Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie. Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien. Diese FIB Lift-Out Grids wurden speziell für die Präparation und Aufnahme von FIB-Lamellen (Focused Ion Beam) entwickelt. Die präzise gefertigten, nummerierten Aufnahmezapfen ermöglichen eine eindeutige Probenidentifikation und erleichtern die Orientierung während der Probenbearbeitung und Analyse.Durch die exakt definierte Formgebung und die flache Absenkung (Shallow Downset) wird eine verbesserte Zugänglichkeit während des Lift-Out-Prozesses erreicht. Diese Grids eignen sich ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie sowie der Elektronenmikroskopie.Die beiden äußeren Aufnahmezapfen verfügen über eine V-förmig ausgeführte Spitze und bieten eine besonders sichere Positionierung der FIB-Lamelle. Der schmalere mittlere Zapfen erweitert die Einsatzmöglichkeiten bei unterschiedlichen Probengeometrien.EigenschaftenSpeziell für FIB-Lift-Out-Anwendungen entwickeltDrei präzisionsgefertigte Aufnahmezapfen (3 Posts)Nummerierte Pins zur eindeutigen ProbenidentifikationDefinierte Geometrie für reproduzierbare Ergebnisse Flache Absenkung (Shallow Downset) zur verbesserten Zugänglichkeit V-förmige Spitzen an den äußeren AufnahmezapfenAus hochwertigem Kupfer (Cu)Geeignet für TEM-Probenpräparation und NanomanipulationTechnische DatenMaterial: KupferAnzahl der Posts (Zapfen): 3Äußere Zapfen: 180 µm Breite x 200 µm LängeSpitzenform: V-förmigMittlerer Post: 80 µm Breite x 200 µm LängeShelf-Breite: 20 µmVerpackungseinheit: 100 Stück

Wenn es um Arbeiten geht, die höchste Genauigkeit erfordern, sind High Precision Tweezers von Ideal-tek die erste Wahl. Diese Präzisionspinzetten werden speziell entwickelt, um kleinste Bauteile sicher zu greifen und präzise zu positionieren. Besonders in Branchen wie Elektronik, Uhrmacherei, Schmuckdesign, Life Science und Medizintechnik sind zuverlässige Präzisionswerkzeuge unverzichtbar.Ideal-tek entwickelt seit über 60 Jahren hochwertige Präzisionswerkzeuge in der Schweiz und kombiniert traditionelle Handwerkskunst mit moderner Fertigungstechnologie. Dadurch entstehen Werkzeuge mit außergewöhnlicher Präzision, hervorragender Balance und hoher Lebensdauer.Präzisionspinzette Typ 10G mit geraden, dicken, angeschrägten & gezackten Spitzen für besonders stabile GreifvorgängeHochwertiger antimagnetischer Edelstahl (SA) – korrosionsbeständig und langlebigSandgestrahlte Oberfläche für blendfreies Arbeiten unter Mikroskop oder BeleuchtungRobuste Spitzengeometrie (dick und quadratisch) für präzises Handling kleiner BauteileGesamtlänge: 110 mm – optimale Balance für präzises ArbeitenSpitzenbreite: ca. 0,45 mm – ideal für feinmechanische AnwendungenSpitzenstärke: ca. 0,40 mmSpitzenöffnung: ca. 8 mm für komfortables GreifenGewicht: ca. 14 g – leicht und ergonomischRoHS-konform – geeignet für professionelle Industrie- und Laboranwendungen

Spitzentyp: 7B - kurvig, fein, gezackte Linien Spitzenbreite: 0,19 mm Spitzendicke: 0,15 mm Länge: 120 mm säureressistent, antimagnetischVerpackungseinheit: 1 Stück

Wenn es um Arbeiten geht, die höchste Genauigkeit erfordern, sind High Precision Tweezers von Ideal-tek die erste Wahl. Diese Präzisionspinzetten werden speziell entwickelt, um kleinste Bauteile sicher zu greifen und präzise zu positionieren. Besonders in Branchen wie Elektronik, Uhrmacherei, Schmuckdesign, Life Science und Medizintechnik sind zuverlässige Präzisionswerkzeuge unverzichtbar. Ideal-tek entwickelt seit über 60 Jahren hochwertige Präzisionswerkzeuge in der Schweiz und kombiniert traditionelle Handwerkskunst mit moderner Fertigungstechnologie. Dadurch entstehen Werkzeuge mit außergewöhnlicher Präzision, hervorragender Balance und hoher Lebensdauer.Material: SASpitzentyp: 00D - gerade, dick, geriffelt Spitzenbreite: 0,90 mm Spitzendicke: 0,50 mm Länge: 120 mm säureressistent, antimagnetischVerpackungseinheit: 1 Stück

Die PEAK Uhrmacherlupen zählen weltweit zu den bevorzugten Präzisionslupen für professionelle Anwendungen in Labor, Forschung, Elektronik, Feinmechanik und Qualitätskontrolle. Dank ihrer hochwertigen Verarbeitung und der exzellenten optischen Qualität bieten sie eine klare, kontrastreiche und verzerrungsarme Darstellung selbst kleinster Details. Ausgestattet mit einer bikonvexen Weißglaslinse aus UV-absorbierendem Kronglas liefern die Lupen eine hervorragende Bildqualität und hohe Farbtreue. Das verwendete optische Glas entspricht den Qualitätsstandards hochwertiger Korrektionsbrillengläser und gewährleistet eine lange Lebensdauer bei gleichbleibender optischer Leistung. Die robuste, schwarz eloxierte Aluminiumfassung ist besonders leicht, schlagfest und für den täglichen Einsatz in Werkstatt und Labor ausgelegt. Ein integriertes Lüftungsloch verhindert das Beschlagen der Linse und sorgt auch bei längeren Arbeiten für eine klare Sicht. PEAK Uhrmacherlupen sind in verschiedenen Vergrößerungen erhältlich und eignen sich ideal für: Qualitätskontrolle und Sichtprüfung Elektronikfertigung und Leiterplatteninspektion Feinmechanik und Uhrmacherei Schmuck- und Edelsteinprüfung Laboranwendungen und Präparation Materialanalyse und Oberflächeninspektion Forschung und Entwicklung Die kratzfeste und lösungsmittelbeständige Glasoptik garantiert dauerhaft präzise Ergebnisse auch unter anspruchsvollen Arbeitsbedingungen. Durch das geringe Gewicht und die ergonomische Bauform ermöglichen die Lupen komfortables Arbeiten über längere Zeiträume. Ihre Vorteile auf einen Blick Original PEAK Präzisionsoptik Hochwertige bikonvexe Weißglaslinse UV-absorbierendes Kronglas Verzerrungsarme und kontrastreiche Darstellung Kratzfeste und lösungsmittelbeständige Glasoptik Robuste Aluminiumfassung Lüftungsöffnung gegen Beschlagen Ideal für Labor, Elektronik, Feinmechanik und Qualitätskontrolle Verschiedene Vergrößerungen verfügbar Bewährte Qualität für professionelle Anwender