Die Spaltzange für kleine Proben ist ein einzigartiges, nicht beschädigendes Spaltwerkzeug. Die handgehaltene Spaltzange schneidet Proben in Stücke von 1 mm - 30 mm. Die Nylonbacken beschädigen Ihre Probe nicht und enthalten Anreißmarkierungen, um die Spaltgenauigkeit zu verbessern. Die doppelte Blattfeder am Drehpunkt erleichtert die Handhabung der Zange. Kunststoffbeschichtete Edelstahlgriffe sorgen für bequemen Halt. Ersatzspitzen für Brechzange Nr. 54364

Mit diesem fluoreszierenden ultrahochauflösenden Testdiagramm kann die Auflösungsgrenze und MTF von High-End-Mikroskopobjektiven über das gesamte Sehfeld bestimmt werden. Linien mit einem Abstand von bis herunter zu 200 nm (5000 Linienpaare pro mm) in horizontaler und vertikaler Ausrichtung ermöglichen es, bis an die Auflösungsgrenze der besten verfügbaren Ölimmersionsobjektive zu kommen. Auf quadratischen Rastern angeordnete Pinholes decken die Felder von 10x-, 20x-, 40x-, 63x- und 100x-Objektiven ab. Die Strukturen des Testcharts werden auf einem hochpräzisen Deckglas mit einer Dicke von 0,17 mm +/- 5 µm erzeugt, das auf ein transparentes fluoreszierendes Substrat gekittet ist. Somit kann der Testobjektträger im Fluoreszenz- und Hellfeldmodus oder mit einem Laser-Scanning-Mikroskop verwendet werden. Die Strukturen sind negativ umgesetzt, d. h. nur die Strukturen sind transparent, während der Hintergrund durch eine Chromschicht verdeckt wird. A: Fünf Bereiche mit Quadraten für slanted-edge MTF. Die Größe der Bereiche entspricht der Feldgröße von 10x-, 20x-, 40x-, 63x- und 100x-Mikroskopobjektiven. In einigen Bereichen gibt es ergänzende ultrafeine Strukturen mit Perioden, die an oder unter den aktuellen Grenzen des Herstellungsprozesses liegen. Diese Strukturen sind möglicherweise nicht sauber geätzt, unvollständig oder mit Ablagerungen bedeckt.  B: Fünf Bereiche mit 20x20 Pinholes. Die Größe der Bereiche entspricht wiederum der Feldgröße von 10x-, 20x-, 40x-, 63x- und 100x-Mikroskopobjektiven(hier nicht vergrößert dargestellt). C: Liniengruppen (jeweils 5 Linien horizontal und vertikal) und eine Pinhole mit einem Durchmesser, der der Linienbreite entspricht, jedoch nicht kleiner als 320nm ist. D: Hochpräzise Skala mit 4 mm Länge.      

Mit diesem Auflösungstest lässt sich sehr leicht und schnell die Auflösungsgrenze eines LM-Objektivs im Durchlicht bestimmen. Es liegen 58 Strichmuster-Gruppen mit 7,5 bis 3300 Linienpaaren/mm in horizontaler und vertikaler Ausrichtung vor. Die einfache Anordnung der Strukturen und direkte Angabe der Strukturgröße auf dem Test gewährleistet eine intuitive Handhabung. Zusätzlich befinden sich 5 Pinholes mit Durchmessern zwischen 4,0 µm und 0,25 µm auf dem Testchart, mit denen es möglich ist, die Abbildungsfehler einer Optik genauer zu charakterisieren. Die Strukturen sind als Negativ ausgeführt, d.h. nur die Strukturen auf dem Test sind transparent, der Hintergrund wird durch eine Chromschicht geblockt.  

Es handelt sich hierbei um eine weiterentwickelte Probe zur Durchführung aller notwendigen Tests bei der Prüfung von REM/EDX-Systemen im Einsatzbereich der automatisierten Partikelanalyse.Diese Testprobe ist insbesondere hilfreich bei der Überprüfung und Einstellung diverser REM/EDX-Kombinationen und REM-Bildaufnahmesysteme wie z.B.: Bruker Partikel Analyse Software Esprit Feature oder GSR Professional; Oxford AZtec / Inca Feature; EDAX Genesis, Aspex Perception; Thermo Fisher ParticleMetric oder Perception; Jeol Particle Analysis; Hitachi 3 D oder 2D Particle Analysis; Thermo Fisher Maps™; Zeiss Microscopy Atlas™; TESCAN Essence™ / TESCAN Image Snapper™ ... und weitere.   Mit einem speziellen patentrechtlich geschützten Verfahren werden auf die Oberfläche eines 8 x 8 mm2 großen Glas-Kohlenstoff-Chips Partikel aufgebracht, die die chemischen Elemente Blei, Antimon und Barium (Pb/Sb/Ba) enthalten. Dabei bleibt die Zusammensetzung aller Strukturen und Partikel nahezu gleich. Die verschiedenen Areale des Chips werden für unterschiedliche Tests, Evaluierungen und Einstellungen benötigt. Neben der bereits aus der Planotec-A Probe (siehe auch Art.-Nr. S1957) bekannten Struktur der Partikelgrößenvariations-Punktmustermatrix (5), sind hier zusätzlich weitere Strukturen auf dem Chip zu finden (1 - 4): Kreuzlinienstrukturen mit 500 µm langen Linien, unterteilt mit 50µm-Zwischenmarkern und Nummernbeschriftungen (im Uhrzeigersinn angeordnet). Verwendung: Längenmessung in x- und y-Ausrichtung im Bild / Erkennung von Scanrichtungsfehlern sekundärer Scan-Generatoren / Bild- zu Tischjustierungstests / Einstellungen zur Hysterese-Korrektur 0,8µm-Punktmuster (ca. 6000 Punkte, 20 µm äquidistant, Fläche 2,4 x 1,0 mm2)Verwendung: Hysterese-Tests bei externen Partikelanalysesystemen, Bildauflösungstest (Verzerrungsfreiheit) bei niedriger Mikroskop-Vergrößerung aber hoher Pixelauflösung Gittermuster mit Dreifachlinien unterschiedlicher Gitterweite.Verwendung: Orthogonalitäts-Test des Mikroskop-Bildes bei verschiedenen Vergrößerungen, diverse Justagen und Einstellungen sind hier möglich 7000µm-LanglinieVerwendung: Langlinienmessung fürTischkalibrierungstests und Tests auf mechanische Tischdefekte Partikelgrößenvariations-Punktmustermatrix (Planotec-A Struktur)Verwendung: Bestimmung der Detektionsempfindlichkeit. Die Struktur weist synthetische Partikel auf, die zeilenartig angeordnet sind. Jede Zeile besteht aus 20 Partikeln, die in jeweils 150 µm Abstand zueinander eine äquidistante Matrix ergeben. Die entsprechende Partikelgröße ist jeweils am Zeilenbeginn angegeben, Größen: 2,0 / 1,8 / 1,6 / 1,5 / 1,4 / 1,3 / 1,2 / 1,1 / 1,0 / 0,9 / 0,8 / 0,7 / 0,6 / 0,5 / 0,4 µm Durchmesser.Jeder Partikel besteht aus PbO, Sb2O3, BaF2 Folgende Forderungen bestehen an ein automatisiertes Partikelanalysesystem, deren Erfüllung mittels dieser Probe einfacher überprüft werden kann, als mit der Planotec-A Probe: Bildkalibrierung / Tischkalibrierung: Vollständiges Absuchen der Probe (keine nicht untersuchten Zwischenräume). Geringe oder keine Feldüberlappungen (Mehrfachdetektionen möglich). Keine Felddrehungen (Bildkoordinatensystem nicht zu Tischkoordinatensystem ausgerichtet) Keine Flightback-Korrekturfehler (Partikel wird bei verschiedenen Scangeschwindigkeiten nicht wiedergefunden) Keine mechanischen Backlash-Fehler (Absolut-Fehler der gespeicherten Tischkoordinaten) EDX / Partikelklassifizierung. Genaue Strahlpositionierung während der EDX-Messung. Ausreichende Spektren-Qualität / Auto-ID Funktion. Qualität des Quantifizierungsergebnisses. Richtige Klassifizierungszuordnung

Aufbewahrungsschachtel für vier 12,5 mm Stiftprobenteller (Zeiss, FEI, Tescan)  für 4 Stiftprobenteller mit je 12,5 mm Durchmesser Innenmaße der Schachtel: 7,3 cm x 3 cm x 1,9 cm Inhalt: 1 Stück

Rubis Pinzette mit feinen, gebogenen Spitzen. Weiche Beschichtung für einen ruschfesten Griff. Diese weiche Beschichtung sorgt für einen rutschfesten Griff. Die Handhabung der Pinzette wird dadurch verbessert und verringert bei längeren Arbeiten das schnelle Ermüden der Hand. Die Beschichtung bietet zusätzlich Schutz gegen Hitze und Kälte. Material: Edelstahl (SA) Typ 7 Spitzenform: gebogen, rund-spitz Länge: 140 mm Verpackungseinheit: 1 Stück 

Das komplette Werkzeugset zum sauberen Ritzen und Spalten. Das Kit enthält zwei Diamantschreiber zum Markieren und Ritzen, einen Diamantschreiber im Stiftstil und eine Zange zum Spalten. Dieses Kit eignet sich für eine Vielzahl von Substraten und Wafern (Si, GaAs, Glas). Das Kit enthält jeweils eine: Diamond Scribe-Pen-Stil Diamant-Ritzspitze Diamond Scribe 30-Grad-Spitze Pinzette mit feiner Spitze aus schwarzer, weicher Faser (Länge 6¼", 158,75 mm) CleanBreak Pliers-Wafer-Spaltzange Kleine Linealmatte - selbstheilend Große Linealmatte - selbstheilend Durchsichtiges Plastiklineal mit metrischen und US-Einheiten Wolfram-Spaltdraht

Diese Ablagebox hat 100, durch Buchstaben und Zahlen am Rand identifizierbare Öffnungen, die jeweils mit einem Netzchen, stehend, bestückt werden können. Die 3 mm-Netzchen werden der Länge nach, die mit einem Durchmesser von 2,3 mm werden mit einer Pinzette quer eingesetzt. Sie besteht aus ABS- Kunststoff, der bis 70 °C warm werden darf, der Deckel aus Polymeracrylat, der nur Temperaturen bis 45 °C verträgt. Beide Teile dürfen nicht mit organischen Lösungsmitteln in Berührung kommen. für 100 Standard 3,05 mm Grids / Netzchen mit Nummern und Buchstaben gekennzeichnet Inhalt: 10 Stück

Werkzeugset zum sauberen Ritzen und Spalten. Das Kit enthält zwei Diamantschreiber zum Markieren und Ritzen, einen Diamantschreiber im Stiftstil und eine Zange zum Spalten. Dieses Kit eignet sich für eine Vielzahl von Substraten und Wafern (Si, GaAs, Glas). Das Kit enthält jeweils eine: Diamond Scribe-Pen-Stil Diamant-Ritzspitze Diamond Scribe- 30-Grad-Spitze Pinzette mit feiner Spitze aus schwarzer, weicher Faser (Länge 6 ¼ ) CleanBreak Pliers-Wafer-Spaltzange Kleine Linealmatte (selbstheilend) Durchsichtiges Plastiklineal mit metrischen und US-Einheiten Wolfram-Spaltdraht

Typ: 5X Material: Austenitstahl Spitzenbreite: 0,10 mm Spitzendicke: 0,15 mm Länge: 118 mm