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PELCO X-CHECKER Wafer 602-20 Die # 602-20 und # 602-21 enthalten: Kupferscheibe zur Überprüfung der Spektralkalibrierung Mangan 88%, Nickel 12% Legierung zum Test der Detektorauflösung (FWHM) Nickel 400 Mesh TEM-Netzchen für die Bildkalibrierung PTFE als Fluorquelle zur Messung der niedrigen Energieauflösung Kohlenstoff zur Überwachung der Kalibrierung am unteren Ende des Spektrums für...
ab 2.520,00 € *
PELCO X-CHECKER Wafer 1 Stück 300 mm (12") 602-21 Die # 602-20 und # 602-21 enthalten: Kupferscheibe zur Überprüfung der Spektralkalibrierung Mangan 88%, Nickel 12% Legierung zum Test der Detektorauflösung (FWHM) Nickel 400 Mesh TEM-Netzchen für die Bildkalibrierung PTFE als Fluorquelle zur Messung der niedrigen Energieauflösung Kohlenstoff zur Überwachung der Kalibrierung am unteren Ende des Spektrums für...
ab 3.150,00 € *
PELCO X-CHECKER 1 Stück JEOL 602 - Probenträger: JEOL Ø 25 mm x 5 mm aus Aluminium
- Verpackungseinheit: 1 Satz
945,00 € *
PELCO X-CHECKER 1 Stück FEI/Tescan/Zeiss (ø12.7 mm Al-Stiftprobenteller) 602-A - Probenträger: Ø 12,7 mm Stiftprobenteller aus Aluminium (Stiftlänge 8 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Satz
945,00 € *
PELCO X-CHECKER Extra 1 Stück JEOL 602-3 - Probenträger: JEOL Ø 25 mm x 5 mm aus Aluminium
- Verpackungseinheit: 1 Satz
1.260,00 € *
PELCO X-CHECKER Extra 1 Stück FEI/Tescan/Zeiss (ø12.7 mm Al-Stiftprobenteller) 602-3A - Probenträger: Ø 12,7 mm Stiftprobenteller (Stiftlänge 8 mm) aus Aluminium
- Verpackungseinheit: 1 Satz
1.260,00 € *
PELCO X-CHECKER B 1 Stück JEOL 602-2 - Probenträger: JEOL Ø 25 mm x 5 mm
- Verpackungseinheit: 1 Satz
1.102,50 € *
PELCO X-CHECKER B 1 Stück FEI/Tescan/Zeiss (ø12.7 mm Al-Stiftprobenteller) 602-2A - Probenträger: Ø 12,7 mm Stiftprobenteller aus Aluminium (Stiftlänge 8 mm)
- Verpackungseinheit: 1 Satz
1.102,50 € *
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