PLANOTEC - Si - Testobjekt mit 10 Mikrometer - pitch Gitter

Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität ( pitch ) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf. Die im Bild sichtbaren Linien sind Gräben mit einer Tiefe von ca. 300 nm ( kann bei einer neuen Charge von diesem Wert etwas abweichen ). Die Trennlinien sind etwa 1,9 µm breit; breiter und vorteilhaft für die Lichtmikroskopie sind Markierungslinien im Abstand von 500 µm. Es eignet sich bestens zum Vergrößerungsvergleich und zur Feststellung von Bildverzeichnungen, insbesondere auch bei automatisierten Zähleinrichtungen. Wo kritische Messungen ausgeführt werden müssen, kann die Probe direkt auf das Silizium-Quadrat montiert werden; somit ist der Maßstab auf der Abbildung zu sehen. 

Eichzertifikat 10 µm - pitch Gitter

Für die PLANOTEC - Silizium - Testobjekte ( ab S1932 ) kann folgendes Eichzertifikat geliefert werden = Art. - Nr. S1962

Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität ( pitch ) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf.... mehr erfahren »
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PLANOTEC - Si - Testobjekt mit 10 Mikrometer - pitch Gitter

Dieses Testobjekt aus einkristallinem Silizium ist 5 mm x 5 mm groß und weist durch Elektronenstrahl geformte, klar sichtbare Quadrate mit einer Periodizität ( pitch ) von 9,87 µm ± 0,05 µm auf. Die im Bild sichtbaren Linien sind Gräben mit einer Tiefe von ca. 300 nm ( kann bei einer neuen Charge von diesem Wert etwas abweichen ). Die Trennlinien sind etwa 1,9 µm breit; breiter und vorteilhaft für die Lichtmikroskopie sind Markierungslinien im Abstand von 500 µm. Es eignet sich bestens zum Vergrößerungsvergleich und zur Feststellung von Bildverzeichnungen, insbesondere auch bei automatisierten Zähleinrichtungen. Wo kritische Messungen ausgeführt werden müssen, kann die Probe direkt auf das Silizium-Quadrat montiert werden; somit ist der Maßstab auf der Abbildung zu sehen. 

Eichzertifikat 10 µm - pitch Gitter

Für die PLANOTEC - Silizium - Testobjekte ( ab S1932 ) kann folgendes Eichzertifikat geliefert werden = Art. - Nr. S1962

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Zertifikat der Fa. AGAR Scientific für Siliziumtestobjekt (S1932ff.) Zertifikat der Fa. AGAR Scientific für Siliziumtestobjekt (S1932ff.) S1962

Für die PLANOTEC-Silizium-Testobjekte S1932, S1933B bis S1933F und S1934

530,55 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf ½-Zoll-Stiftprobenteller mit 8 mm Stift PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf ½-Zoll-Stiftprobenteller mit 8 mm Stift S1932
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • Montiert auf Ø 12,5 mm Stiftprobenteller (Stiftlänge 8 mm)
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 39,50 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf ISI/ABT-Probenteller PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf ISI/ABT-Probenteller S1933B
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • Montiert auf ISI/ABT Probenteller 
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 40,69 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf ½-Zoll-Stiftprobenteller mit 6 mm Stift PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf ½-Zoll-Stiftprobenteller mit 6 mm Stift S1933F
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • Montiert auf Ø 12,5 mm Stiftprobenteller /Stiftlänge 6 mm)
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 40,69 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf HITACHI-Probenteller PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf HITACHI-Probenteller S1933C
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • Montiert auf HITACHI Probenteller 
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 40,69 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf JEOL -Probenteller 12,5 mm ø PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf JEOL -Probenteller 12,5 mm ø S1933E
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • Montiert auf JEOL Probenteller Ø 12,5 mm 
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 40,69 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø S1933D
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • Montiert auf JEOL Probenteller Ø 10 mm 
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 40,69 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf Lichtmikroskop Metall-Objektträger PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (montiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück montiert auf Lichtmikroskop Metall-Objektträger S1934
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • Montiert auf Lichtmikroskop Metall-Objektträger 25 mm x 75 mm
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 50,62 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (unmontiert) mit 10 µm - pitch Gitter PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (unmontiert) mit 10 µm - pitch Gitter S1930
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • unmontiert
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 38,75 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (unmontiert) mit 10 µm - pitch Gitter 10 Stück 5 mm x 5 mm ohne PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (unmontiert) mit 10 µm - pitch Gitter 10 Stück 5 mm x 5 mm ohne S1931
  • Silizium Testobjekt 5 mm x 5 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • unmontiert
  • Verpackungseinheit: 10 Stück
ab 375,74 € *
PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (unmontiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück 10 mm x 10 mm ohne PLANOTEC-Silizium-Testobjekt (unmontiert) mit 10 µm - pitch Gitter 1 Stück 10 mm x 10 mm ohne S1930SP
  • Silizium Testobjekt 10 mm x 10 mm mit Quadraten mit einer Periodizität von 9,87 µm ± 0,05 µm
  • Trennlinien 1,9 µm breit, Markierungslinien im Abstand von 500 µm
  • unmontiert
  • Verpackungseinheit: 1 Stück
ab 93,10 € *
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