Pelcotec - LMS - 20 ( für x5 bis x1000 )

Dieser Pelcotec™ Vergrößerungsstandard LMS - 20 wurde speziell für die präzise Kalibrierung von niedrigen Vergrößerungen entwickelt, wie sie bei Partikelanalysen großer Flächen, Schmauchspuren - analyse im Rasterelektronenmikroskop, aber auch für Anwendungen mit dem Lichtmikroskop vorkommen. Das Pelcotec™ LMS - 20 kann von x5 bis x1000 Vergrößerung sinnvoll eingesetzt werden.

Der Kalibrierbereich beträgt 20 mm x 10 mm mit gekreuzten Linien und Unterteilungen in 10 µm – Schritte. Diese 10 µm - Unterteilungen entlang der zentralen X und Y – Achsenline bestehen aus 200 nm breiten Chrom – Linien auf einem ultraflachen Siliziumchip ( 22 mm x 11 mm, Dicke 525 µm +/- 10 µm, Orientierung , Bor dotiert, mit einem Widerstand von 5 – 10 Ohm/cm ). Über die X und Y – Achse zeigen größere Linien 0,5 mm bzw. 1 mm Abstände an. In den Quadranten sind kleine Kreuzchen ( für den 0,1 mm Abstand ) und größere Kreuze ( für den 1,0 mm Abstand ) als Orientierungshilfe vorhanden. Eine Seriennummer ist auf jedem einzelnen Testobjekt aufgebracht. Die auf NIST ( National Institute of Standards ) rückführbare zertifizierte Version ist Pelcotec™ LMS - 20T, die vollständig individuell zertifizierte Version ( auf NIST rückführbar ) ist Pelcotec™ LMS - 20C.