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REM-Auflösungstestobjekt mit Dendriten aus Wolfram-Aluminium REM-Auflösungstestobjekt mit Dendriten aus Wolfram-Aluminium S145
362,50 € *
REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung 643-1
ab 2.256,54 € *
Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 25 mm 18 Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 25 mm 18 S1924

Preis auf Anfrage

1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (unmontiert) 1-D Dreiecks-Test-Raster TGT-1500 (unmontiert) S629-40
343,00 € *
Pelcotec SFG12 Silizium Finder Substrat Pelcotec SFG12 Silizium Finder Substrat 21480
30,63 € *
Kreuzgitter-Replika mit 2160 Linien Kreuzgitter-Replika mit 2160 Linien 607-STM
91,70 € *
Kalibrierstandard "XCS EDS" Kalibrierstandard "XCS EDS" 659-5
ab 511,00 € *
Kalibrierstandard "XCS BSD" Kalibrierstandard "XCS BSD" 659-7
ab 875,00 € *
Rückstreuelektronen-Kombistandard Rückstreuelektronen-Kombistandard NM231

Preis auf Anfrage

Liniengitter-Replika (2160 L / mm) auf 3,05 mm Netzchen Liniengitter-Replika (2160 L / mm) auf 3,05 mm Netzchen S104
63,38 € *
Gitterebenen-Testobjekte Gitterebenen-Testobjekte S118
ab 51,75 € *
MAC DUPLEX Referenzobjekt MAC DUPLEX Referenzobjekt S1953

Preis auf Anfrage

AFM Kalibrierstandard für XYZ-Achse auf 12 mm ø AFM-Scheibe AFM Kalibrierstandard für XYZ-Achse auf 12 mm ø AFM-Scheibe SCS-20NG

Preis auf Anfrage

BSE Referenzobjekt Aluminium (Z=13) - Silizium (Z=14) BSE Referenzobjekt Aluminium (Z=13) - Silizium (Z=14) S1954

Preis auf Anfrage

BSE Referenzobjekt Palladium (Z=46) - Silber (Z=47) BSE Referenzobjekt Palladium (Z=46) - Silber (Z=47) S1951

Preis auf Anfrage

BSE Referenzobjekt Platin (Z=78) - Gold (Z=79) BSE Referenzobjekt Platin (Z=78) - Gold (Z=79) S1952

Preis auf Anfrage

Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,216 µm Gold Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,216 µm Gold S128B
ab 57,55 € *
Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,112 µm Palladium/Platin Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,112 µm Palladium/Platin S128A1
ab 56,00 € *
Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,855 µm Palladium/Platin Latexkugeln - beschattet (auf 3,05 mm-Netzchen) 1 Stück 0,855 µm Palladium/Platin S128A7
ab 52,00 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 10 mm ø S1988A
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf ISI/ABT Probenteller S1988B
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf HITACHI Probenteller S1988C
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf 12,5 mm Stiftprobenteller (6 mm Stiftlänge) S1988D
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück montiert auf JEOL-Probenteller 12,5 mm ø S1988E
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dünne Kohlescheibe 0,5 mm / 6 mm ø S1988T
238,36 € *
Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø Auflösungs-Testobjekt für LowKV - Zinn auf Kohle (Teilchengröße < 20 nm - 400 nm) 1 Stück unmontiert auf dicke Kohlescheibe 2 mm / 6 mm ø S1988U
238,36 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 6 mm Stift Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 6 mm Stift 630-F
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 8 mm Stift Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück 12,5 mm ø Stiftprobenteller, 8 mm Stift 630-A
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück Hitachi-Träger (M4), 15 mm ø x 6 mm hoch Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück Hitachi-Träger (M4), 15 mm ø x 6 mm hoch 630-K
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück ISI/ABT-Träger, 15 mm ø x 10 mm hoch Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück ISI/ABT-Träger, 15 mm ø x 10 mm hoch 630-D
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück JEOL-Träger, 12,2 mm ø x 10 mm hoch Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück JEOL-Träger, 12,2 mm ø x 10 mm hoch 630-M
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück JEOL-Träger, 9,5 mm ø x 9,5 mm hoch Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück JEOL-Träger, 9,5 mm ø x 9,5 mm hoch 630-C
ab 154,00 € *
Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück Probenträger vom Kunden gestellt Millimeter-Miniskala - Kalibrierung für niedrige Vergrößerung (montiert & unmontiert) 1 Stück Probenträger vom Kunden gestellt 630-G
ab 294,00 € *
MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter nicht zertifiziert MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter nicht zertifiziert S1990S

Preis auf Anfrage

MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter zertifiziert in X-, Y- und Z nach NIST MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter zertifiziert in X-, Y- und Z nach NIST S1992S

Preis auf Anfrage

MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter zertifiziert in X und Y nach NPL und NIST MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Standard-Halter zertifiziert in X und Y nach NPL und NIST S1991S

Preis auf Anfrage

MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Lichtmikroskop-Halter zertifiziert in X und Y nach NPL und NIST MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Lichtmikroskop-Halter zertifiziert in X und Y nach NPL und NIST S1991O

Preis auf Anfrage

REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung 1 Stück Kalibrierschein der PTB REM-Titan-Testobjekt, 292 nm (nominell) für hohe Vergrößerungen, Hochauflösung 1 Stück Kalibrierschein der PTB 643-11

Preis auf Anfrage

Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 32 mm 18 Seltene Erden Standards im Halter 1 Stück 32 mm 18 S1925

Preis auf Anfrage

Kalibrierstandard "XCS EDS" 1 Stück 5 (SS316, SiO2, Mn, B, C) + 200 mesh Kupfernetz im Zentrum Kalibrierstandard "XCS EDS" 1 Stück 5 (SS316, SiO2, Mn, B, C) + 200 mesh Kupfernetz im Zentrum 659-6
ab 511,00 € *
Kalibrierstandard "XCS EDS" 1 Stück 5 (SS316, SiO2, Mn, BN, C) + 200 µm Cu-Blende als Faradaykäfig Kalibrierstandard "XCS EDS" 1 Stück 5 (SS316, SiO2, Mn, BN, C) + 200 µm Cu-Blende als Faradaykäfig 659-8
ab 553,00 € *
Kalibrierstandard "XCS EDS" 1 Stück 5 (CaB6, SiC, CrN, Fe2O3, CaF2) + 200 µm Cu-Blende als Faradaykäfig Kalibrierstandard "XCS EDS" 1 Stück 5 (CaB6, SiC, CrN, Fe2O3, CaF2) + 200 µm Cu-Blende als Faradaykäfig 659-12
ab 1.715,00 € *
Kalibrierstandard "XCS BSD" 1 Stück 6 (Ge, Rh, Au, C, Si, C) + 200 µm Cu-Blende als Faradaykäfig Kalibrierstandard "XCS BSD" 1 Stück 6 (Ge, Rh, Au, C, Si, C) + 200 µm Cu-Blende als Faradaykäfig 659-22
ab 910,00 € *
Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück Crocidolit-Kristalle auf 3,05 mm Netzchen 0,9 nm und 0,45 nm Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück Crocidolit-Kristalle auf 3,05 mm Netzchen 0,9 nm und 0,45 nm S122
ab 33,11 € *
Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück Katalase-Kristalle auf 3,05 mm Netzchen 8,75 nm und 6,85 nm Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück Katalase-Kristalle auf 3,05 mm Netzchen 8,75 nm und 6,85 nm S124
ab 73,24 € *
Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück gerichtete Gold-Kristalle auf 3,05 mm Netzchen 0,204 nm, 0,143 nm und 0,102 nm Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück gerichtete Gold-Kristalle auf 3,05 mm Netzchen 0,204 nm, 0,143 nm und 0,102 nm S135
ab 180,25 € *
Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück Kupferphthalocyanin-Kristalle auf 3,05 mm Netzchen 1,0 nm Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück Kupferphthalocyanin-Kristalle auf 3,05 mm Netzchen 1,0 nm S136
ab 36,10 € *
Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück Carbon Black in kristalliner Form auf 3,05 mm Netzchen 0,34 nm Gitterebenen-Testobjekte 1 Stück Carbon Black in kristalliner Form auf 3,05 mm Netzchen 0,34 nm S140
ab 36,10 € *
MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Lichtmikroskop-Halter nicht zertifiziert MRS-3 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück im Lichtmikroskop-Halter nicht zertifiziert S1990O

Preis auf Anfrage

MRS-6 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück unmontiert NIST und NPL für X, Y zertifiziert MRS-6 - Geller-Referenz-Standard 1 Stück unmontiert NIST und NPL für X, Y zertifiziert S2135

Preis auf Anfrage

PLANOTEC Chemographie-Testprobe mit synthet. GSR-Verteilung 1 Stück Für Filterpapier als Sekundärspurenträger PLANOTEC Chemographie-Testprobe mit synthet. GSR-Verteilung 1 Stück Für Filterpapier als Sekundärspurenträger S1959-1
399,00 € *
PLANOTEC Chemographie-Testprobe zur Bestimmung von Homogenität + Auflösungsgrenze 1 Stück Für Filterpapier als Sekundärspurenträger PLANOTEC Chemographie-Testprobe zur Bestimmung von Homogenität + Auflösungsgrenze 1 Stück Für Filterpapier als Sekundärspurenträger S1959R-1
399,00 € *
Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 1 Stück montiert auf AFM-Scheibe 12 mm ø Referenz-Standard für AFM, 145 nm Pitch 1 Stück montiert auf AFM-Scheibe 12 mm ø 642-1AFM
ab 1.466,68 € *
MAC - Universal-Fertighalter 25 mm MAC - Universal-Fertighalter 25 mm S1922

Preis auf Anfrage

MAC - Universal-Fertighalter 32 mm MAC - Universal-Fertighalter 32 mm S1923

Preis auf Anfrage

MAC - Biologie-Fertighalter 25 mm MAC - Biologie-Fertighalter 25 mm S1920

Preis auf Anfrage

MAC - Biologie-Fertighalter 32 mm MAC - Biologie-Fertighalter 32 mm S1921

Preis auf Anfrage

MAC - Einzelstandard in loser Form MAC - Einzelstandard in loser Form NM166

Preis auf Anfrage

MAC - Einzelstandard Bornitrid in Messinghülse, ø 5 mm MAC - Einzelstandard Bornitrid in Messinghülse, ø 5 mm NM165-BN

Preis auf Anfrage

MAC - Einzelstandard Cobalt in Messinghülse, 5 mm ø MAC - Einzelstandard Cobalt in Messinghülse, 5 mm ø NM165-Co

Preis auf Anfrage

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