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Stiftprobenteller mit niedrigem Profil für FIB Anwendungen

Vorschau: Stiftprobenteller mit niedrigem Profil für FIB Anwendungen Vorschau: Stiftprobenteller mit niedrigem Profil für FIB Anwendungen
Stiftprobenteller mit niedrigem Profil für FIB Anwendungen
Stiftprobenteller mit niedrigem Profil für FIB Anwendungen
   
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  • Artikel-Nr.: 16176
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Produktinformationen "Stiftprobenteller mit niedrigem Profil für FIB Anwendungen"

Probenteller mit niedrigem Profil kommen speziell bei REM- und FIB-Anwendungen zum Einsatz. Diese ermöglichen einen kurzen Arbeitsabstand zwischen Probe und Polschuh des entsprechenden Systems. Erhältlich sind die Probenteller in unterschiedlichen flachen, vertikalen und im FIB-Winkel angeschrägten Versionen. Letztere werden verwendet, um die Probe im rechten Winkel zur FIB-Säule zu untersuchen, ohne die Probenbühne kippen zu müssen.

  • Teller flach, Gesamthöhe 7 mm
  • Stiftlänge: 6 mm für ZEISS/LEO
  • Material: Aluminium
  • Verpackungseinheit: 10 Stück
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