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Geteilter Probenhalter für Hitachi mit M4-Gewinde für dünne Proben oder Wafer

Geteilter Probenhalter für Hitachi mit M4-Gewinde für dünne Proben oder Wafer
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  • 15335-4
Geteilter Probenhalter zur Aufnahme von Wafern und dünnen Proben bis zu 3,2 mm (1/8"). 15 mm... mehr
Produktinformationen "Geteilter Probenhalter für Hitachi mit M4-Gewinde für dünne Proben oder Wafer"

Geteilter Probenhalter zur Aufnahme von Wafern und dünnen Proben bis zu 3,2 mm (1/8").

  • 15 mm Durchmesser x 10 mm Höhe
  • Hergestellt aus Aluminium mit Innensechskantschraube aus Edelstahl
  • Innensechskantschlüssel enthalten
  • Inhalt: 1 Stück
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