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Kompakter variabler Kipptisch-Halter (für Zeiss/LEO/Cambridge/Leica/FEI/Philips/Tescan)

Kompakter variabler Kipptisch-Halter (für Zeiss/LEO/Cambridge/Leica/FEI/Philips/Tescan)
99,31 € *

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Diese kompakte Probenhalterung mit variabler Neigung ermöglicht die einfache Montage und Neigung... mehr
Produktinformationen "Kompakter variabler Kipptisch-Halter (für Zeiss/LEO/Cambridge/Leica/FEI/Philips/Tescan)"

Diese kompakte Probenhalterung mit variabler Neigung ermöglicht die einfache Montage und Neigung kleiner Proben von 0° - 90° und REM-Untersuchungen bei kleinen Arbeitsabständen.

  • Markierungen für 30°, 45°, 70° und 90°
  • Die Tischgröße beträgt 11 mm x 14 mm (0,46"x 0,55")
  • Die Gesamtgröße beträgt 14 mm x 14,3 mm x 14,5 mm (0,55"x 0,56" x 0,57")
  • Hergestellt aus Aluminium mit Edelstahlschraube
  • Innensechskantschlüssel enthalten
  • Die verwendete Schraube ist M2 x 0.4mm x 12mm Hex SHCS
  • Verpackungseinheit: 1 Stück

 

Greif-Probenhalter Greif-Probenhalter G3392
35,85 € *
45° Stiftprobenhalter 45° Stiftprobenhalter 15329
60,81 € *
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