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Kippbarer Probenhalter mit Stift für Zeiss/LEO/Cambridge/Leica/FEI/Philips/Tescan

Kippbarer Probenhalter mit Stift für Zeiss/LEO/Cambridge/Leica/FEI/Philips/Tescan
95,46 € *

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Diese kippbare Probenhalterung ermöglicht das einfache Einspannen und Kippen von kleinen Proben... mehr
Produktinformationen "Kippbarer Probenhalter mit Stift für Zeiss/LEO/Cambridge/Leica/FEI/Philips/Tescan"

Diese kippbare Probenhalterung ermöglicht das einfache Einspannen und Kippen von kleinen Proben von 0° bis 70°. Er verfügt über Indexwinkelmarkierungen, mit maximalem 70°-Anschlag für EBSD. Die Probenplattform hat einen Durchmesser von 12,7 mm (0,50"). Die Gesamthöhe beträgt 12,7 mm (0,50"). Hergestellt aus Aluminium mit Edelstahlschraube. Inklusive Innensechskantschlüssel

Die verwendete Schraube ist eine 4-40 x 5/16 Innensechskantschraube aus rostfreiem Stahl.

Verpackungseinheit: 1 Stück

Greif-Probenhalter Greif-Probenhalter G3392
35,85 € *
45° Stiftprobenhalter 45° Stiftprobenhalter 15329
60,81 € *
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